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90Plus Zeta纳米粒度及Zeta电位分析仪,粒度测量采用动态光散射原理,是一种准确、快速、便捷的纳米、亚微米粒度分析测试仪器。Zeta电位测量采用电泳光散射原理,带电颗粒在外加电场作用下进行运动,电荷运动使散射光产生频率漂移(多普勒频移),采用频谱漂移分析技术,从而可计算出颗粒的电泳迁移率和Zeta电位。
工作原理
纳米粒度测量部分使用动态光散射技术(Dynamic Light Sacttering, DLS), 即由于颗粒在悬浮液中的布朗运动,使得光强随时间产生脉动。采用数字相关器(digital correlator)技术处理脉冲信号,将光强的波动转化为相关函数。自相关函数包含了悬浮颗粒或者溶液中高分子的扩散速度信息,进而利用Stokes-Einstein方程计算得出粒子的扩散系数和粒子粒径Rh及其分布:
ZetaPlus电位测量采用电泳光散射原理:带电颗粒在外加电场作用下进行运动,电荷运动使散射光产生频率漂移(多普勒频移),采用频谱漂移分析技术,从而可计算出颗粒的电泳迁移率和Zeta电位。
主要特点:
1、高灵敏性,粒度测量范围:0.3nm~15μm;
2、插入式电极,耐腐蚀,可重复使用;
3、可作为在线检测器与GPC/SEC连接,并通过DLS、光强和粒径监测聚集过程;
4、综合多种粒度分析方法和模型Particle Solution 粒度测量软件;
5、强大的数据分析功能,可自动研究粒度随时间、温度(蛋白熔点)以及其他参数变化的趋势分析。
典型应用:
1、脂质体、生物胶体、医药
2、陶瓷、胶乳、乳剂(食品、化妆品)
3、颜料、油墨、炭黑