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EyeTech粒度分析仪

EyeTech Combi是颗粒分析最终解决方案,它集成了先进的LOT(激光光阻法)与专业的图像处理识别技术,提供样品粒度、粒形和浓度数据等完整的颗粒表征。独特的激光阻隔时间分析技术(LOT),可快速准确地进行粒度分析;通过使用视频的精密动态图像分析技术,准确描述非球形材料;其测量结果与颗粒或介质的物理光学特性无关。

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  • EyeTech粒度粒形分析仪集成了先进的LOT(激光光阻法)与专业的图像处理识别技术,提供样品粒度、粒形和浓度数据等完整的颗粒表征。

    • 独特的激光阻隔时间分析技术(LOT),可快速准确地进行粒度分析;

    • 通过使用视频的精密动态图像分析技术,准确描述非球形材料;

    • 其测量结果与颗粒或介质的物理光学特性无关。


    EyeTech粒度粒形分析仪卓越的灵活性可为用户提供:

     

    • 监测动力学过程

    • 通过记录大小vs形状绘制多维数据

    • 分析复杂数据以反应分布中的次要分布

    • 通过从数据库中调用记录图片来识别分布中的单个粒子

    • 生成标准体积和数量分布结果


    激光光阻测量技术与视频分析生成的综合信息,可通过直观的数据报告软件轻松访问。 结果可以显示在大量的表格和图表中,可以自定义以显示所需的信息。 软件可以轻松进行数据比较,从而可以多图叠加显示或编辑数据对比表。 只需单击鼠标,便可在WORD文档中生成示例报告。 该文件包括有关样品制备,尺寸和形状结果的信息,并附有样品的图像或视频:

    • 自动生成测量报告

    • 定制实时图表

    • 方便重新处理存储的图像

    • 设定多个用户级别

    • 安装向导轻松启动

    • 符合21 CFR Part 11审计追踪处理


    EyeTech是一个模块化测量系统,可以安装多种不同的测试单元。 随着快速更换测量单元,这款多功能仪器可以分析液体,乳剂,干粉,纤维,磁性颗粒,加热液体和气雾剂中的颗粒。这种应用导向的测量方法可确保您的样品根据其特定性质进行测量。

    • 独特的激光阻隔时间分析技术(LOT),可快速准确地进行粒度分析

    • 通过使用视频的精密动态图像分析技术,准确描述非球形材料

    • 其测量结果与颗粒或介质的物理光学特性无关

    • ACM-101 磁力搅拌样品槽

    • ACM-102 机械搅拌样品槽

    • ACM-104 流通样品槽

    • ACM-104L 纤维流通样品槽

    • ACM-106 气溶胶流通样品槽

    • ACM-108 微流通样品槽

    • ACM-110 显微镜载玻样品槽

    • ACM-112 粉末自由下落样品槽

    • AC-10 气溶胶流量控制单元

    • LFC-101 液体流量控制器

    • PD-10 粉体分散器


010-51627740

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